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公司基本資料信息
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性能
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指標(biāo)
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測(cè)溫范圍
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100℃~600℃
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溫度分辨率
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< 1℃(200℃黑體)
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光學(xué)分辨率(90%能量)
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150:1
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熱點(diǎn)探測(cè)(50%能量)
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450:1
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掃描角度
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典型90°(自適應(yīng)60°~120°可調(diào))
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聚焦范圍
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0.3m~無(wú)窮大
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掃描方式
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光學(xué)線掃描(25 線/秒)
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掃描頻率
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8~40HZ,典型25HZ
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響應(yīng)窯轉(zhuǎn)速
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0.3~6 r/min
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圖像像素?cái)?shù)
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8 萬(wàn)像素(400×200)
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圖像刷新頻率
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與窯轉(zhuǎn)速相同
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紅外探測(cè)器
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美國(guó)InfraRed碲鎘汞MCT
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紅外探測(cè)器類(lèi)型
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HgCdTe(MCT),2級(jí)
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光譜范圍
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2.2um~5.6um
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A/D轉(zhuǎn)換器
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12Bit(72db)0.5MHz
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取樣點(diǎn)數(shù)
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1024
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工作方式
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連續(xù)
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環(huán)境溫度/濕度
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-20℃~55℃ 無(wú)凝結(jié)
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