測(cè)量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量?jī)x器之一種，它的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，適用范圍極廣，用途如下：

1．直角坐標(biāo)中測(cè)定長(zhǎng)度，例如測(cè)定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。

2．轉(zhuǎn)動(dòng)度盤測(cè)定角度，例如對(duì)刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測(cè)量。

3．用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版，檢驗(yàn)紡織纖維等等。

X軸移動(dòng)測(cè)量范圍           50 mm

Y軸移動(dòng)測(cè)量范圍           13 mm

測(cè)微器分度值               0.01mm
測(cè)量臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍             不限

測(cè)量臺(tái)刻度盤分度范圍       0°360°

測(cè)量臺(tái)刻度盤之分度值       1°

測(cè)量臺(tái)刻度盤游標(biāo)讀數(shù)示值   6’

儀器示值誤差：±（5+L/15）μm

儀器示值誤差：包括測(cè)量誤差與儀器系統(tǒng)誤差

注：測(cè)量地點(diǎn)溫度變化（20±3）℃

L-被測(cè)件長(zhǎng)度（mm）